Hall Effect -enhed

Avanceret elektrisk transportkarakteriseringsplatform

DX -3000 er en multifunktionel testplatform designet til omfattende analyse af elektriske transportegenskaber. Det kombinerer Hall Effect, Magnetoresistance og IV -karakterisering i et enkelt integreret system. Ved at optimere valg af instrumentering og eliminere manuelle ledningskompleksiteter (opsætninger af værelse/lav temperatur) strømline det dataindsamling for præcision og gentagelighed. Kompatibel med elektromagneter eller superledende magneter (brugerkonfigurerbar) understøtter det smarte prøvesprober og tilpasselig software til hurtige, automatiserede målinger.

• Effektiv arbejdsgang: Modulære prøvekort muliggør hurtig installation (understøtter 2–4 prøver samtidig med tilføjelser).
• Bredt måleområde: Modstandsanalyse fra 0. 1MΩ til 100GΩ (udvides via højspændings-/impedansmoduler).
• Adaptiv test: Programmerbare strøm/magnetfeltparametre til dynamiske hall- og modstandsevalueringer.
• Visualisering af realtid: Automatiseret software genererer mellemresultater, kurver (IV, RT, RH) og sidste parametre (bæretæthed, mobilitet, plademodstand).
• Magnetisk fleksibilitet: Nulfeltstabilisering, langvarig feltstabilitet og hurtig feltkontrol via integrerede Gauss-målere.
• Temperatur alsidighed: Valgfri kryogene moduler (1.6k - 800k) til variable miljøundersøgelser.

• Halvledere: SIGE, INGAAS, HGCDTE, SIC, ALGAAS osv.
• Ledende film: Metaller, TMR -strukturer, gennemsigtige oxider.
• Substrater med høj impedans: Semi-insulerende GaaS, Cdte, Gan.

1. Hall Effect -analyse:
   Output: Resistivity, Hall Coefficient, Carrier Type/Concentration, Mobility.
2. Magnetoresistance -profilering:
   Metrics: ΔR, ΔR/R%, RH -kurver.
3. Dynamisk karakterisering:
   IV -kortlægning ved variable temperaturer/felter.
   Temperaturafhængig modstand (RT) under faste felter.

Elektriske moduler: Keithley Precision Instruments (aktuelle kilder, nanovoltmetre, switch matrixer).

Magnetindstillinger:

• Dx -100: 1,5T max (60 mm pol, ± 1% ensartethed).
• Dx -130: 2,5T max (100 mm pol).
• Dx -180: 2,7T max (120 mm pol).

Termisk kontrol(Valgfri):

Flydende nitrogen (80–500K), kryostater (4–325K), kompakte køleskabe (45–325K).

Prøvedimensioner:

• Små/sonde kort: 12x12mm² til 30x30mm².
• Store kort: 50x50mm².

Elektriske grænser:

• Aktuel: ± 100pa - 100 mA (opløsning: 100pa).
• Spænding: ± {{0}}. 1μV - 30V (opløsning: 0,1μV).
• Max Carrier Density: 1 × 10¹⁸ Cm⁻³.

Nøjagtighedskriterier:

• Usikkerhed om felt/tykkelse<1%.
• Optimal B-felt/tykkelse-forhold: 1T/mm.

• Prøveforberedelse: Understøtter 4-/6- trådkonfigurationer.
• Programmel: Fuld automatisering med datalogning, kurvefitting og parameterekstraktion.
• Overholdelse: Lavt strømforbrug (<1mV sample excitation).

Semiconductor R&D, magnetiske materialestudier, tyndfilmenhedsvalidering og avanceret materialevidenskab.

(Bemærk: Brugerdefinerede konfigurationer til rådighed til eksisterende labopsætninger eller specialiserede krav.)