Magnetisk feltsondestation

 

Denne kryogene sondestation (valgfrit: høj temperatur, lav temperatur, vakuum, magnetfelt) er en højpræcision, multifunktionel eksperimentel platform designet til at teste de elektriske og magnetiske egenskaber af halvledermaterialer, mikro-nano-enheder, magnetiske materialer, spintronic enheder og relaterede tekniske områder.

 

 

1. Eksperimentel platform med høj præcision: Probestationen har en sondearm med højpræcisionsforskydning, som nøjagtigt kan betjene og teste små prøver.

2. Multifunktionskonfiguration: I henhold til brugerbehov kan høj temperatur, lav temperatur, vakuum, magnetfelt og andre konfigurationer vælges for at imødekomme behovene i forskellige komplekse eksperimentelle miljøer.

3. Højstabilt magnetfelt: Gennem et omhyggeligt designet magnetfeltsystem kombineret med en højpræcision bipolær konstant strømforsyning sikres magnetfeltets høje stabilitet.

4. Forskydningstrinets design: Forskydningstrinnet er udstyret med en magnetisk væskeforsegling for at opnå todimensionel bevægelse og 360-graders rotation af prøvetrinnet i vandret retning, og betjeningen er fleksibel og bekvem.

5. Mikroskopisk observation: Udstyret med et højpræcisions elektronmikroskop er det praktisk for brugerne at observere og betjene små prøver i detaljer.

 

 

Denne sondestation er meget udbredt inden for halvlederindustrien, mikro-elektromekaniske systemer, superledning, elektronik, ferroelektronik, fysik, materialevidenskab og biomedicin, herunder men ikke begrænset til:

Magnetisk præstationstest

Test af mikroovns ydeevne

DC, RF ydeevne test

MEMS præstationstest

Superledende præstationstest

Fotoelektrisk ydeevnetest af nanokredsløb, kvanteprikker og ledninger

Chiptest i høj- og lavtemperaturvakuummiljø

Materiale test

Hall test

Test af elektromagnetisk transportydelse osv.

 

 

For at imødekomme forskellige brugeres behov tilbyder vi en række valgfrit tilbehør, herunder:

Forskellige DC prober, højfrekvente prober, aktive prober

Kabelforbundet CCD eller C-MOS videobilledenhed

Sugekop bevægelsesanordning elektromagnetsystem/superledende magnetsystem

1Mpa positivt tryk system opgradering

Mulighed for opgradering af ultrahøj temperatur

Opgraderingsmulighed for ultrahøjt vakuum

Forskellige sondeholdere

Afskærmet boks anti-vibrationsbord

Adapter

Lydløs vakuumpumpe mv.

 

 

Høj- og lavtemperatur vakuum magnetfeltsondestation
Model	DXTPS1	DXTPS2	DXTPS3
Vakuum grad	Maksimalt vakuum 10-8Pa
Hulrumsmateriale	Ikke-magnetisk rustfrit stål eller aluminiumslegering
Magnetisk feltområde	2000Gs @ 50mm	5000Gs @ 50mm	1T @ 50 mm
Magnetisk feltretning	vandret (kan designes i henhold til brugerkrav i lodret retning)
Strømforsyning	Bipolær strømforsyning ± 50A	Bipolær strømforsyning ± 70A	Bipolær strømforsyning ± 90A
Stabilitet i strømforsyningen	50 ppm valgfri 10 ppm
Køletilstand	Flydende helium/flydende nitrogen køling/lukket cyklus køleskab
Temperaturområde	5 K-325K valgfri 500K
Temperaturområde	65 K-325K valgfri 600K
Temperaturkontrol opløsning	0.001K temperaturregulator relateret
Temperaturstabilitet	bedre end 0.1K afhængigt af temperaturregulatoren
Temperaturføler	silicium diode/PT 100
Sensorer	Et prøvebord, en strålingsskærm og en sondearm.
Eksempel på bordstørrelse (maks.)	Φ50mm, fladhed Mindre end eller lig med u7m
Prøve bordfastgørelsesmetode	Vakuum silikonefedt/fjederpresser
Prøve bordmateriale	guldbelagt iltfrit kobber
Mikroskop rejser	X, Y-plan 2*2 tommer, nøjagtighed 1um, Z-aksevandring Større end eller lig med 50,8 mm
Forstørrelse	16 ~ 100X/20 ~ 4000X
Vakuumkammerets observationsvinduestørrelse	1 tomme	1,5 tommer	2 tommer
Vinduesmaterialer	smeltet silica (valgfri K9, calciumfluorid osv.)
Antal sondearme	2, 4, 6, 8 valgfri
Sondearmsrejse	25 mm-25mm-12mm udskiftelig
Mekanisk nøjagtighed	10um/ 2um/ 1um/ 0,7um
Interface form	Almindelig vakuumled/tre koaksialled/BNC/SMA osv
Probe diameter	0.51 mm
Nålespids diameter	10um/ 5um/ 1um valgfri
Probe materiale	Wolfram/GGB
Forsyningsspænding	AC220V 50Hz/60Hz	AC380V 50Hz/60Hz

 

Parameterbekræftelse før køb:

 

Det maksimale antal tommer wafers eller enheder, der skal testes; om det er nødvendigt at teste fragmenter eller enkelte chips; den mindste enkelt chip størrelse;

Hvor højt er det mekaniske præcisionskrav til sondestationen;

Elektrodestørrelsen af ​​punktmålingsprøven; 100μm*100μm eller 60μm*60μm pude, eller minipuden lavet af FIB, eller metalkredsløbet inde i ic'en;

Der kræves maksimalt flere sonder til punktmåling på samme tid;

Om sondekorttesten vil blive brugt;

Hvor meget kræves minimumsopløsningen af ​​det optiske mikroskop;

Med hensyn til mikroskopi, er det nødvendigt at tilføje en polarisator til LC flydende krystal hotspot-detektion;

Om det aktuelle krav når 100fa eller derunder under probe-spottesten! Behøver det lave kapacitanskrav at være 0,1pf; Om der er et radiofrekvenskrav;

Hvad er de tilsluttede testinstrumentgrænseflader;

Om opvarmning eller køling er påkrævet, når miljøet testes! Om et lukket hulrum er påkrævet;

Hvad med Chucks lækagekrav; Har du brug for at tilføje en borepatron med lav impedans;

Om et anti-chok bord er påkrævet;

Hvis du tilføjer et stødsikkert bord, om der er trykluft.

 

Flere billeder af Cryogenic Probe Station

 

 

 

Vi anerkender dybt logistikkens nøglerolle i at forbedre følelsen af ​​shoppingoplevelse, så vi er forpligtet til at designe de effektive, sikre og pålidelige logistik- og transportnetværk, der er skræddersyet til dig. Vi har etableret langsigtede og stærke partnerskaber med mange kendte logistikudbydere for at sikre, at dine produkter når frem til din destination rettidigt og sikkert. Derudover tilbyder vi en omfattende sporingsservice, så du kan forstå produktets transportstatus. Vi prioriterer kunderne, stræber konstant efter at forbedre servicekvaliteten og stræber efter at give dig en fremragende shoppingoplevelse.

 

 

Spørgsmål 1: Hvad er egenskaberne ved høj- og lavtemperaturvakuumprober til mikroobservation og billeddannelse?

Svar:

1. Højopløsning: Probebordet er udstyret med et højopløsningsmikroskopsystem, der kan observere udseendet og strukturen af ​​prøvens overflade i realtid. Dette er afgørende for udseendets egenskaber, defektanalyse og materialerepræsentation af forskningsudstyr.

2. Billeddannelsesegenskaber: Mikroskopsystemer har normalt en række forskellige billeddannelsestilstande, såsom optisk billeddannelse, elektronisk billeddannelse osv., for at imødekomme forskellige prøver og eksperimentelle behov. Disse billeddannelsesmønstre kan give rig billedinformation og hjælpe forskere med at forstå prøvens natur.

 

 

Spørgsmål 2: Hvilke funktioner har dataindsamlings- og analysesoftware i høj- og lavtemperaturvakuumsonder?

Svar:

1. Realtidsopsamling: Probebordet skal udstyres med avanceret dataindsamlings- og analysesoftware for at opnå realtidsindsamling af elektriske, mikro- og materialeanalysedata.

2. Behandling og analyse: Dataindsamlingssoftware har normalt flere databehandlings- og analysefunktioner, såsom billedbehandling, datatilpasning og tredimensionel rekonstruktion.

 

 

Spørgsmål 3: Hvad er kendetegnene ved høj- og lavtemperaturvakuumprober med hensyn til mikroobservation og billeddannelse?

Svar:

Høj opløsning: Probebordet er udstyret med et højopløsningsmikroskopsystem, der kan observere udseendet og strukturen af ​​prøvens overflade i realtid. Dette er afgørende for udseendets egenskaber, defektanalyse og materialerepræsentation af forskningsudstyr.

Billeddannelsesegenskaber: Mikroskopsystemer har normalt en række forskellige billeddannelsestilstande, såsom optisk billeddannelse, elektronisk billeddannelse osv., for at imødekomme forskellige prøver og eksperimentelle behov.